1．性能指标
硬盘柜性能指标一般包括IOPS（Input Output Operations Per Second，反映的是随机读写性能）、吞吐量（Throughput，单位MB/s，反映的是顺序读写性能）、Response Time/Latency（响应时间/时延，单位ms或μs）。
·IOPS：单位IOPS，NVMe硬盘盒即设备每秒完成IO请求数，一般是小块数据读写命令的响应次数，比如4KB数据块尺寸。IOPS数字越大越好。
·吞吐量：单位MB/s，即每秒读写命令完成的数据传输量，也叫带宽（Bandwidth），硬盘柜一般是大块数据读写命令，比如512KB数据块尺寸。吞吐量越大越好。
·硬盘柜响应时间：也叫时延（Latency），硬盘柜即每个命令从发出到收到状态回复所需要的响应时间，时延指标有平均时延（Average Latency）和最大时延两项（Max Latency）。响应时间越小越好。
2．访问模式
性能测试设计上要考虑访问模式（Access Pattern），包括以下三部分：
·硬盘柜Random/Sequential：随机（Random）和连续（Sequential）数据命令请求。何为随机和连续？硬盘柜指的是前后两条命令LBA地址是不是连续的，连续的地址称为Sequential，不连续的地址称为Random。
·Block Size：块大小，即单条命令传输的数据大小，硬盘柜性能测试从4KB～512KB不等。随机测试一般用小数据块，比如4KB；硬盘柜顺序测试一般用大块数据，比如512KB。
